氧化亚铜 (Cu$_{2-x}$O$_{1-y}$) 中的空位弛豫
材料科学
2016-11-30 v2
摘要
当氧化亚铜（CuO）中受激发的空位弛豫时会产生声子。利用时间分辨发光技术，找到了受激发的铜空位（受主）和氧空位（施主）陷阱能级及其寿命。该技术还被用于确定空位发射的声子脉冲中的典型能量和声子数量。氧化亚铜的空位特性受多个合成参数和温度的控制。我们利用瞬态吸收直接证明了氧空位对光的吸收。铜空位和氧空位的行为不同，部分原因是这两种陷阱从不同状态俘获载流子。例如，在低温下，铜空位的发光寿命大约长 25 倍。然而，这两种空位发光都与泊松多声子发射模型一致。
引用
@article{arxiv.1611.08793,
title = {Vacancy Relaxation in Cuprous Oxide (Cu$_{2-x}$O$_{1-y}$)},
author = {Laszlo Frazer and Kelvin B. Chang and Richard D. Schaller and Kenneth R. Poepplemeier and John B. Ketterson},
journal= {arXiv preprint arXiv:1611.08793},
year = {2016}
}
备注
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