中文

拓扑相变时磁化率跳变的普适量化

介观与纳米尺度物理 2021-01-27 v1

摘要

我们从微观上考察了拓扑绝缘体的磁化率,发现轨道-塞曼(OZ)交叉项(即轨道效应与自旋塞曼效应之间的交叉项)在自旋 zz 分量守恒时与 Berry 曲率直接相关。特别地,OZ 交叉项反映了自旋陈数,这导致了在拓扑相变时磁化率跳变的量化。跳变的大小以普适值 4eμB/h4|e|\mu_{\rm B}/h 为单位。阐明了这种量子化的物理起源。我们还将所得公式应用于一个具体模型并论证了该量子化。

关键词

引用

@article{arxiv.2004.09712,
  title  = {Universal Quantization of Magnetic Susceptibility Jump at Topological Phase Transition},
  author = {Soshun Ozaki and Masao Ogata},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2004.09712},
  year   = {2021}
}