同时施加偏压和微波场下非晶固体中的普适介电损耗
无序系统与神经网络
2015-06-05 v3 统计力学
摘要
我们推导了玻璃中由两能级系统和扫描电场偏压产生的共振过程引起的交流介电损耗。结果表明，在足够大的交流场和偏压扫描速率下，由两个场产生的非平衡损耗角正切趋近于由裸线性介电常数决定的普适最大值。此外，针对一系列偏压扫描速率和交流振幅推导了该非平衡损耗角正切，并表明该损耗角正切产生了一个可在Landau-Zener理论中理解且可用于提取TLS密度、偶极矩和弛豫率的预测损耗函数。
引用
@article{arxiv.1205.4982,
title = {Universal dielectric loss in amorphous solids from simultaneous bias and microwave field},
author = {Alexander L. Burin and Moe S. Khalil and Kevin D. Osborn},
journal= {arXiv preprint arXiv:1205.4982},
year = {2015}
}
备注
To appear in Physical Review Letters, 4 pages, 3 figures