稀释康金杂质引起的普遍相位耗散率
介观与纳米尺度物理
2007-05-23 v3 强关联电子
摘要
我们计算了磁性杂质在弱无序金属中的相位耗散率,这是在弱定位实验中测得的。如果磁性杂质的浓度 足够低,则相位耗散率 是一个普遍函数,,其中 为康金温度, 为态密度。我们指出,具有典型能量转移 的非弹性顶点修正被 的幂次抑制,与 成正比。因此,相位耗散率可由与 成比例的非弹性截面计算,其中 为 T 矩阵,通过数值重整化群进行精确求解。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0509583,
title = {Universal dephasing rate due to diluted Kondo impurities},
author = {T. Micklitz and A. Altland and T. A. Costi and A. Rosch},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0509583},
year = {2007}
}
备注
4 pages, 3 figures; minor modifications, version accepted by PRL