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稀释康金杂质引起的普遍相位耗散率

介观与纳米尺度物理 2007-05-23 v3 强关联电子

摘要

我们计算了磁性杂质在弱无序金属中的相位耗散率,这是在弱定位实验中测得的。如果磁性杂质的浓度 nSn_S 足够低,则相位耗散率 1/τϕ1/\tau_\phi 是一个普遍函数,1/τϕ=(nS/ν)f(T/TK)1/\tau_\phi = (n_S/\nu) f(T/T_K),其中 TKT_K 为康金温度,ν\nu 为态密度。我们指出,具有典型能量转移 ΔE\Delta E 的非弹性顶点修正被 1/(τϕΔE)1/(\tau_\phi \Delta E) 的幂次抑制,与 nSn_S 成正比。因此,相位耗散率可由与 πνImT1πνT2\pi \nu \mathrm{Im} T^{-1} |\pi \nu T|^{2} 成比例的非弹性截面计算,其中 TT 为 T 矩阵,通过数值重整化群进行精确求解。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/0509583,
  title  = {Universal dephasing rate due to diluted Kondo impurities},
  author = {T. Micklitz and A. Altland and T. A. Costi and A. Rosch},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0509583},
  year   = {2007}
}

备注

4 pages, 3 figures; minor modifications, version accepted by PRL