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近藤体系中低温退相干的标度行为

介观与纳米尺度物理 2009-11-11 v1

摘要

我们展示了掺杂不同浓度nsn_s Fe近藤杂质的准一维Ag线的相位相干时间测量。由于该体系具有相对较高的近藤温度TK4.3KT_{K}\approx 4.3K,我们能够探索从高于TKT_{K}到低于0.01TK0.01 T_{K}的温度范围。我们表明,每个杂质的磁性贡献对退相干率γm\gamma_m,当作为(T/TK)(T/T_K)的函数作图时,可以用一条单一的普适曲线来描述。对于T>0.1TKT>0.1 T_K,退相干率与自旋S=1/2S=1/2杂质的最新数值结果吻合得非常好。在较低温度下,我们观察到与该理论的偏差。基于与S>1/2S>1/2的理论计算比较,我们讨论了观察到的偏差的可能解释。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/0607154,
  title  = {Scaling of the low temperature dephasing rate in Kondo systems},
  author = {F. Mallet and J. Ericsson and D. Mailly and S. Unlubayir and D. Reuter and A. Melnikov and A. D. Wieck and T. Micklitz and A. Rosch and T. A. Costi and L. Saminadayar and C. Bauerle},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0607154},
  year   = {2009}
}

备注

4 pages, 3 figures, submitted to Phys. Rev. Lett