基于雪崩二极管的单光子探测器本征探测效率的意外探测率依赖性

单光子探测器是光子量子技术的关键组件。精确而全面的本征探测效率校准对于确保针对特定技术应用（例如量子密码方案中防范安全漏洞）的性能正确评估至关重要。在此，我们报告了对两款基于单光子雪崩二极管（SPADs）的商用单光子探测器在不同平均光子数下以及高激光脉冲重复频率下使用不同技术进行的本征探测效率估计的系统研究与全面分析。我们观察到在相对于最大探测率 10% 及以上的探测率下，本征探测效率出现意外且显著的下降。结果表明，若无时间戳数据可用，在数据分析中可方便地采用一种针对探测率的统计模型。我们得出结论，在关键应用中使用的单光子探测器的完整表征应包括其本征探测效率对高事件率的敏感性。