用于Mu3e实验的超低物质量像素层
仪器与探测器
2016-12-21 v1
摘要
即将进行的Mu3e实验将寻找静止μ子衰变为三个电子的带电轻子味破坏过程。电子的最大能量为53 MeV，因此低物质量是径迹探测器的关键性能要求。本文总结了我们将每层像素探测器物质量控制在约0.1%辐射长度的方案。这包括选择采用HV-CMOS技术的减薄有源单片像素传感器、超薄柔性印刷电路以及氦气冷却。
引用
@article{arxiv.1610.02021,
title = {Ultra-low material pixel layers for the Mu3e experiment},
author = {N. Berger and S. Dittmeier and L. Henkelmann and A. Herkert and F. Meier Aeschbacher and Y. W. Ng and L. O. S. Noehte and A. Schöning and D. Wiedner},
journal= {arXiv preprint arXiv:1610.02021},
year = {2016}
}