斐波那契拓扑电路的双点谱学测量

拓扑电路是凝聚态系统拓扑特征的超材料实现。在本工作中，我们讨论了允许通过电路的双点阻抗快速且直接地检测这些系统谱特征的实验方法。这使得能够从频率分辨阻抗的单个双点测量中推导出由 N 个格点组成的拓扑电路的全谱。相比之下，标准方法依赖于对导纳矩阵元的 $N^2$ 次测量以及随后在计算机上的对角化。我们通过构建斐波那契拓扑电路对我们的方法进行了实验测试。尽管该链状的谱是分形的，即比周期系统的谱更复杂，我们的方法仍成功地恢复了其特征值。我们的工作将拓扑电路推广为测量各种（准）晶体系统谱性质的理想平台。