隧穿进入分数量子霍尔系统与红外灾难
介观与纳米尺度物理
2009-11-13 v1 强关联电子
摘要
我们计算了在量子化磁场中二维相互作用电子气的隧穿态密度。我们表明，态密度中观察到的赝能隙可以理解为非相互作用电子模型中红外灾难的结果。这种灾难源于电子系统对隧穿事件中突然加入的电荷所产生的势的响应。我们的形式体系可以在任意填充因子下应用，无需使用Chern-Simons或复合费米子理论。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0702238,
title = {Tunneling into a Fractional Quantum Hall System and the Infrared Catastrophe},
author = {Kelly R. Patton and Michael R. Geller},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0702238},
year = {2009}
}