NiFe/IrMn双层膜中训练诱导的正交换偏置
材料科学
2009-05-01 v3
摘要
通过软X射线共振磁散射，在NiFe/IrMn双层膜系统中观察到正交换偏置。在系统通过反铁磁体的阻塞温度进行场冷却后，初始的常规负交换偏置在训练（即连续磁化反转）后被移除，导致在阻塞温度（450 K）以下30 K的温度范围内出现正交换偏置。这种磁训练的新表现从磁化反转过程中磁失谐界面处的亚稳态磁无序角度进行了讨论。
引用
@article{arxiv.0902.3427,
title = {Training Induced Positive Exchange Bias in NiFe/IrMn Bilayers},
author = {S. K. Mishra and F. Radu and H. A. Dürr and W. Eberhardt},
journal= {arXiv preprint arXiv:0902.3427},
year = {2009}
}
备注
4 pages, 3 figures