$\nu = 1/3$ 任意子流通过的拓扑韧性
介观与纳米尺度物理
2025-10-15 v1 强关联电子
摘要
分子量尔赫系统拉赫林序列中不可压缩状态的准粒子传递子规模指数 预期会对不致于闭合能隙的扰动保持韧性。我们通过测量在 状态边界处的反向传播边缘模式之间的隧穿电导随量子点口径传输而函数，探讨了自旋 状态任意子流通过的拓扑韧性。我们证明，当传输 时，隧穿电导可由对应 的第一两个项的级数展开所描述。我们进一步证明，测量的规模指数在整个台阶上稳健地固定在 ，仅当 Bulk 状态变得可压缩时才会偏离。最后我们检讨了弱无序对规模指数的影响，发现其不敏感。这些测量坚实地确立了 任意子流通过的拓扑韧性，并确证了边缘模式的自旋 Luttinger 液体描述。
引用
@article{arxiv.2510.11860,
title = {Topological Robustness of Anyon Tunneling at $\nu = 1/3$},
author = {Adithya Suresh and Ramon Guerrero-Suarez and Tanmay Maiti and Shuang Liang and Geoffrey Gardner and Claudio Chamon and Michael Manfra},
journal= {arXiv preprint arXiv:2510.11860},
year = {2025}
}
备注
6+5 pages, 4+2 figures