二维导体的拓扑不稳定性
强关联电子
2018-06-29 v1
摘要
本文提出一种具有周期性电荷序的二维各向同性导体的结构不稳定性机制,其完全排除了传统的嵌套机制。我们表明,此类导体中的结构不稳定性可作为一种拓扑重构出现,在此过程中初始闭合的费米面转变为开放的费米面。我们发现电荷序基态的序参量可超过费米能量的百分之一。此外,该电荷序是关于无量纲耦合常数 的量子相变,该常数关联于驱动能带重构的机制(例如电子-声子耦合),其临界值由 给出。初步估计表明,所提机制可能是高铜氧化物或石墨插层物等材料中观测到的密度波的起源。
引用
@article{arxiv.1806.10943,
title = {Topological instability of two-dimensional conductors},
author = {Anatoly M. Kadigrobov and Aleksa Bjeliš and Danko Radić},
journal= {arXiv preprint arXiv:1806.10943},
year = {2018}
}
备注
7 pages, 5 pictures