引力透镜交叉功率谱的层析研究

通过获取光学红移信息，层析技术允许我们对不同源红移箱中的星系椭圆率进行交叉相关。由于不同的红移箱共享了大量前景质量分布，沿Gpc尺度构建了引力透镜信号，因此交叉相关并非消失。然而，如果红移箱足够厚，则交叉相关对来自星系本征对齐(contamination)的敏感性较小，因为这种对齐在大于几十Mpc的尺度上迅速衰减。我们预测仅使用交叉功率谱进行引力层析可如何约束宇宙学参数，与包括自功率谱的层析方法进行比较。结果表明，对于5个或更多的源红移箱，参数误差仅增加约10%。因此，交叉功率谱层析可以作为一种简洁、模型无关的方法，用于减少本征对齐污染，同时保留大部分宇宙学约束。