见或不见：利用 HIM 和 SEM 成像表面活性剂包覆的纳米颗粒
材料科学
2013-08-19 v3
摘要
纳米颗粒在基础研究和应用研究中备受关注。然而，对其精确可视化往往十分困难，且对所获图像的解读可能相当复杂。本文呈现了一项关于十六烷基三甲基溴化铵（CTAB）包覆金纳米棒的扫描电子显微镜（SEM）与氦离子显微镜（HIM）对比研究。通过这两种方法，我们展示了如何选择性地可视化金核以及周围薄的 CTAB 壳层。这使得能够定量测定金核或 CTAB 壳层的尺寸。所测得的 CTAB 壳层厚度为 1.0 nm–1.5 nm，与早期使用要求更苛刻且基于倒易空间技术的结果高度一致。
引用
@article{arxiv.1304.7167,
title = {To see or not to see: Imaging surfactant coated nano--particles using HIM and SEM},
author = {Gregor Hlawacek and Imtiaz Ahmad and Mark A. Smithers and E. Stefan Kooij},
journal= {arXiv preprint arXiv:1304.7167},
year = {2013}
}
备注
revised version