薄膜铝型 CPW 共振器中的 TLS 与准量子子损耗：一种修正模型与设计启示

随着超导动力电感探测器（KIDs）在灵敏亚毫米探测及其他应用中流行起来，人们致力于开发更低损耗的器件。我们对 NASA Goddard Space Flight Center 进行 KID 开发所设计的诊断性薄膜铝型双曲线导波（CPW）共振器进行了测量。共振频率范围为 $f_0$ = 3.5-4 GHz，包含四分之一波和半波共振器，并具有不同的耦合电容设计。我们测量了器件薄膜特性，并分析了在暗环境中测量的共振器中主要损耗机制，显示出 $Q_i^{-1} \approx 3.64-8.57\ \times 10^{-8}$ 的质量因子。我们观察到在中高读数功率下，来自两级系统（TLS）损耗贡献的抑制水平显著提升，并在这些功率和低温下观察到来自固有过程 $Q_i^{-1}$ 其他损耗占总损耗的主导地位。我们还观察到在低功率和 60 mK 以下温度下，损耗与标准 TLS 损耗模型之间存在偏差，并使用修正模型来描述这种行为。