TIRSPEC：TIFR 近红外光谱仪与成像仪
天体物理仪器与方法
2014-08-19 v1
摘要
我们介绍了 TIFR 近红外光谱仪与成像仪 (TIRSPEC)，该仪器是与美国夏威夷 Mauna Kea Infrared LLC 公司合作设计并制造的，目前运行于印度拉达克 Hanle 海拔 4500 米处的 2 米喜马拉雅钱德拉望远镜 (HCT) 的侧端口。TIRSPEC 提供多种工作模式，包括使用宽带和窄带滤光片进行测光、使用 300" 长狭缝及不同宽度狭缝配合 Y、J、H 和 K 波段的级次分离滤光片并以光栅棱镜 (grism) 作为色散元件进行单级次光谱测量，以及提供 1.0 至 2.5 微米覆盖范围且分辨本领 约为 1200 的交叉色散模式。TIRSPEC 采用 Teledyne 1024 x 1024 像素 Hawaii-1 PACE 阵列探测器，截止波长为 2.5 微米；在 HCT 上提供 307" x 307" 的视场，板比例为 0.3"/像素。TIRSPEC 于 2013 年 6 月成功调试，本文展示了随后的表征结果及天文观测数据。自 2014 年 5 月起，TIRSPEC 已向全球天文界开放用于科学观测。
引用
@article{arxiv.1408.4006,
title = {TIRSPEC : TIFR Near Infrared Spectrometer and Imager},
author = {J. P. Ninan and D. K. Ojha and S. K. Ghosh and S. L. A. D'Costa and M. B. Naik and S. S. Poojary and P. R. Sandimani and G. S. Meshram and R. B. Jadhav and S. B. Bhagat and S. M. Gharat and C. B. Bakalkar and T. P. Prabhu and G. C. Anupama and D. W. Toomey},
journal= {arXiv preprint arXiv:1408.4006},
year = {2014}
}
备注
20 pages, 21 figures, 2 tables. Accepted for publication in Journal of Astronomical Instrumentation