硅基传感器中的时间分辨率限制：来自 Landau 波动和电子噪声
高能物理 - 实验
2025-04-04 v1 仪器与探测器
摘要
在本报告中，我们推导了标准硅基传感器、LGAD 和 3D 沟槽传感器的时间分辨率限制。我们分别检讨了 Landau 波动和电子噪声的影响。为了分析 Landau 波动，我们将单个电子-空穴对在传感器中随机位置生成的时间分辨率与由带电粒子产生的完整电离图案相关的时间分辨率联系起来。对于电子噪声，我们探索了最小化其对时间分辨率影响的优化滤波技术，并评估了这些技术与实际滤波器之间的接近程度。最后，我们演示了 Landau 波动和电子噪声的综合效应通常不能简单地表示为单个贡献的二次求和。
引用
@article{arxiv.2504.02570,
title = {Time resolution limits in silicon sensors from Landau fluctuations and electronics noise},
author = {Werner Riegler},
journal= {arXiv preprint arXiv:2504.02570},
year = {2025}
}
备注
17 pages, 15 figures