薄 NiFe2O4/Pt 薄膜中热驱动的自旋流与电荷流
材料科学
2016-08-02 v1
摘要
我们展示了半导体亚铁磁 NiFe2O4/Pt 薄膜从室温降至 50 K 基底温度范围内表现出的纵向自旋塞贝克效应 (LSSE) 结果。据我们所知，这是首次在 NiFe2O4 薄膜中观察到自旋卡效应。我们并行研究了电导率的温度依赖性，以获取关于在亚铁磁体 Pt 覆盖层处检测到的电势起源的信息，从而区分 LSSE 与反常能斯特效应。此外，我们还研究了 LSSE 对温度梯度的依赖性以及外加磁场方向的影响。
引用
@article{arxiv.1301.7313,
title = {Thermally driven spin and charge currents in thin NiFe2O4/Pt films},
author = {Daniel Meier and Timo Kuschel and Liming Shen and Arunava Gupta and Takashi Kikkawa and Ken-ichi Uchida and Eiji Saitoh and Jan-Michael Schmalhorst and Günter Reiss},
journal= {arXiv preprint arXiv:1301.7313},
year = {2016}
}