利用贝叶斯统计确定薄膜YIG的热导
材料科学
2015-09-09 v1
摘要
薄膜YIG (YFeO) 是热生成纯自旋流与自旋塞贝克效应实验的典型材料。3-omega方法是测量薄膜面外热导的成熟技术，但其标准形式无法用于YIG/GGG (GaGdO) 体系。我们采用热输运的二维建模，并引入一种基于贝叶斯统计的技术来评估从3-omega方法获取的测量数据。我们的分析方法使我们能够研究传统3-omega分析无法触及的材料体系。薄膜YIG的温度依赖热导数据对于自旋热电子学领域的实验至关重要。在此，我们展示了室温至10 K范围内覆盖宽厚度范围的薄膜数据，以及10 K至50 K间磁场对热导的影响。
引用
@article{arxiv.1505.08006,
title = {Thermal conductance of thin film YIG determined using Bayesian statistics},
author = {C. Euler and P. Hołuj and T. Langner and A. Kehlberger and V. I. Vasyuchka and M. Kläui and G. Jakob},
journal= {arXiv preprint arXiv:1505.08006},
year = {2015}
}