结合 Newton-Raphson 法与 3-omega 法反推多层薄膜结构各层热导率的方法
计算物理
2025-10-01 v1
摘要
薄膜的热导率通常使用 3-omega 实验法进行估算。在校准测试装置时，通常使用已知热导率的样品进行验证。然而，在确定未知样品的热导率时，数值近似可以提供一种验证实验结果并确保装置完整性的手段。简单的解析法或有限元分析（FEA）方法可用于实现这一目标。对于各层热导率未知的系统，3-omega 实验装置仅提供关于系统整体体热导率的信息。为了获得各层的热导率，可以采用实验与数值相结合的方法。本文提出了一种利用 3-omega 实验与 Newton-Raphson 数值法相耦合的新方法，以反推多层薄膜结构的各层热导率。该方法使用从文献中获得的高保真数据进行了验证。
引用
@article{arxiv.2509.26408,
title = {Method for backtracking the layer thermal conductivities of multilayer thin film structure using coupled Newton Raphson approach and 3-omega approach},
author = {Aigbe Awenlimobor and Jiajun Xu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2509.26408},
year = {2025}
}