低质量 X 射线双星暂现源中爆发率与轨道周期的关系

我们基于对过去几十年观测到的爆发的综合研究，探讨了低质量 X 射线双星暂现源（LMXBTs）的爆发性质。爆发率根据来自 Swift/BAT、RXTE/ASM 和 MAXI 的 X 射线监测数据以及文献中先前的报告进行估算。我们发现，几乎所有轨道周期低于 $\sim$12 小时的 LMXBTs 在这些观测中仅表现出一次爆发。长周期（$P_{\rm orb} \gtrsim$ 12 hr）与短周期（$P_{\rm orb} \lesssim$ 12 hr）系统之间的爆发率存在系统性差异。我们推断质量转移率是造成该系统性差异的原因，因为盘不稳定性模型（DIM）指出质量转移率是影响宁静时间的关键因素。长周期与短周期 LMXBTs 爆发率的差异可能源于供体星在不同演化阶段具有不同的质量转移机制。基于单星演化轨迹，我们推导了拥有亚巨星供体星、不同金属丰度的 X 射线双星的临界轨道周期。临界轨道周期（$P_{\rm orb,crit}=$12.4 hr）与上述由爆发率统计得到的轨道周期边界一致。此外，我们发现对于供体星光度级为 III/IV 的样品，爆发率与轨道周期之间存在负相关。黑洞子样品的最佳拟合幂律指数与那些供体星已离开主序的系统的理论预测大致一致。