与 Planck Thomson 光学厚度一致的再电离参数空间

我们使用再电离历史的一种新参数化方法，研究与该 Thomson 光学厚度当前测量值一致的再电离参数空间。以红移中点、持续时长与非对称形状参数为基准给出质量加权电离分数。我们采用保守的平坦先验与物理约束进行 MCMC 分析。分析得出红移中点 z_{50}=7.66\substack{+0.57-0.61}\text{(68%)}\substack{+1.26-1.02}\text{(95%)}，以及在 $\tau = 0.054 \pm 0.007$ 下持续时长 $\Delta_\text{z} < 7.5$ 与非对称性 $A_\text{z}<5.3$ 的上限。重构的质量加权电离分数 $x_\text{i}(z)$ 是非对称的，但再电离的早期贡献较小。