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再电离光学深度作为宇宙学和天体物理参数的探针

天体物理学 2009-10-31 v2

摘要

当前高红移吸收线系统的数据表明,氢再电离发生在红移约5之前。先前关于第一代恒星或类星体再电离的研究表明,此类情景由大量宇宙学和天体物理参数描述。在此,我们采用恒星再电离的半解析模型,以量化再电离光学深度如何依赖于这些参数,并将其与宇宙微波背景(CMB)的约束相结合。我们发现,由于再电离模型提供了互补信息,这种方法在缓解CMB参数提取中再电离光学深度与原初功率谱振幅之间众所周知的简并性方面特别有用。我们还研究了将天体物理参数的独立限制转化为宇宙学参数的限制,或者反过来,改进的宇宙学参数测定将如何约束天体物理未知量。

关键词

引用

@article{arxiv.astro-ph/9912401,
  title  = {The Optical Depth to Reionization as a Probe of Cosmological and Astrophysical Parameters},
  author = {Aparna Venkatesan},
  journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/9912401},
  year   = {2009}
}

备注

25 pages with 13 embedded postscript figures; this matches the version accepted for publication in Ap.J., July 1, 2000 issue (vol. 537). Revisions are minor: a few text clarifications or corrections, and figures are now easier to read