X-IFU仪器的粒子本底
天体物理仪器与方法
2017-05-24 v1
摘要
在本文中，我们将回顾ATHENA任务上X-IFU仪器预期粒子本底的最新估计。该粒子本底由两种不同的粒子群诱发：所谓的“软质子”和宇宙射线。第一成分由低能粒子（< 100s keV）组成，这些粒子被镜面汇聚向焦平面，在滤光片内损失部分能量，并在仪器灵敏带内诱发本底计数。后一成分由高能粒子（> 100 MeV）诱发，这些粒子拥有足够能量穿越航天器并从任意方向到达探测器，在仪器内沉积其能量的一小部分。这两个成分均使用蒙特卡洛模拟进行估计，本文给出了最新结果。
引用
@article{arxiv.1705.04076,
title = {The particle background of the X-IFU instrument},
author = {Simone Lotti and Teresa Mineo and Christian Jacquey and Silvano Molendi and Matteo D'Andrea and Claudio Macculi and Luigi Piro},
journal= {arXiv preprint arXiv:1705.04076},
year = {2017}
}