Keck 行星成像与表征仪：为未来极大望远镜演示先进的系外行星表征技术
天体物理仪器与方法
2019-09-11 v1
摘要
Keck 行星成像与表征仪（KPIC）是对 Keck II 自适应光学系统的升级，可在中红外（2-5 微米）对巨行星系外行星进行高对比度成像与高分辨率光谱表征。KPIC 仪器将分阶段开发。第一阶段包括安装基于快速、低噪声 SAPHIRA IR-APD 阵列的红外金字塔波前传感器（PyWFS）。超灵敏红外 PyWFS 将实现对恒星形成区中寒冷、偏红和/或被遮挡目标周围幼年期系外行星的高对比度研究。此外，PyWFS 下游的光将借助主动光纤注入单元（FIU）耦合进单模光纤阵列。这些光纤进而将光导引至 Keck 的高分辨率红外光谱仪 NIRSPEC，从而首次实现高色散日冕仪（HDC）。HDC 最优地结合高对比度成像与高分辨率光谱，允许对系外行星大气进行详细表征，包括分子组成、自转测量与多普勒成像。在此我们概述该仪器、其科学范围，并报告第一阶段上天后调试的最新结果。所设计的仪器与开发的技术对于未来极大望远镜所需的更先进仪器概念将是关键。
引用
@article{arxiv.1909.04541,
title = {The Keck Planet Imager and Characterizer: Demonstrating advanced exoplanet characterization techniques for future extremely large telescopes},
author = {N. Jovanovic and J. R. Delorme and C. Z. Bond and S. Cetre and D. Mawet and D. Echeverri and J. K. Wallace and R. Bartos and S. Lilley and S. Ragland and G. Ruane and P. Wizinowich and M. Chun and J. Wang and J. Wang and M. Fitzgerald and K. Matthews and J. Pezzato and B. Calvin and M. Millar-Blanchaer and E. C. Martin and E. Wetherell and E. Wang and S. Jacobson and E. Warmbier and C. Lockhart and D. Hall and R. Jensen-Clem and E. McEwen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1909.04541},
year = {2019}
}
备注
10 pages, 5 figures, Proc of SPIE Optics+Photonics and AO4ELTs6, 2019