基于 KPIC 的增强型高色散日冕成像仪第二阶段：子模块的设计、集成与状态
天体物理仪器与方法
2020-12-15 v1
摘要
Keck 行星成像与表征仪 (KPIC) 是一台专为 Keck 望远镜 K 和 L 波段高色散日冕成像而建造的仪器。该仪器将提供北半球可见的已知直接成像系外行星和低质量棕矮星伴星的首批高分辨率 (R30,000) 光谱。KPIC 分阶段开发。第一阶段目前处于 Keck 的早期运行阶段，第二阶段升级将于 2021 年底部署。第二阶段的目的是最大化行星光的通量并最小化恒星泄漏，从而减少获取给定信噪比光谱所需的曝光时间。为此，KPIC 第二阶段利用了此前未以这种方式组合的几项创新技术。这些包括用于波前校正和散斑控制的 1000 单元变形镜、一组无损光束整形光学元件以最大化光纤耦合、用于抑制多余星光的瞳面切趾器、用于在对数极限内及极限处获取光谱的瞳面涡旋掩模，以及大气色散补偿器。这些模块与第一阶段已有的有源光纤注入单元结合，将构成一个高效的系外行星表征平台。在本文中，我们将介绍光学和光机的最终设计，并重点介绍为实现所有新功能而采用的一些创新解决方案。我们将概述子模块的集成与实验室测试及部分结果。最后，我们将列出部署时间表。
引用
@article{arxiv.2012.06638,
title = {Enhanced high-dispersion coronagraphy with KPIC phase II: design, assembly and status of sub-modules},
author = {N. Jovanovic and B. Calvin and M. Porter and T. Schofield and J. Wang and M. Roberts and G. Ruane and J. K. Wallace and R. Bartos and J. Pezzato and J. Colborn and J. R. Delorme and D. Echeverri and D. Mawet and C. Z. Bond and S. Cetre and S. Lilley and S. Ragland and P. Wizinowich and R. Jensen-Clem},
journal= {arXiv preprint arXiv:2012.06638},
year = {2020}
}
备注
12 pages, 8 figures, Proceedings of SPIE