薄超导氮化钛薄膜中的电子 - 声子弛豫时间
超导电性
2013-12-23 v1 材料科学
摘要
我们报道了对无序 TiN 薄膜中电子 - 声子弛豫时间的直接测量。在 4.2 至 1.7 K 的温度范围内，测得的值介于 5.5 ns 至 88 ns 之间，且与的温度依赖关系一致。费米能级处的电子态密度是根据测得的材料参数估算的。所呈现的结果证实，薄 TiN 薄膜是用于超灵敏超导探测器的有前途的候选材料。
引用
@article{arxiv.1312.5966,
title = {The electron-phonon relaxation time in thin superconducting titanium nitride films},
author = {A. Kardakova and M. Finkel and D. Morozov and V. Kovalyuk and P. An and C. Dunscombe and M. Tarkhov and P. Mauskopf and T. M. Klapwijk and G. Goltsman},
journal= {arXiv preprint arXiv:1312.5966},
year = {2013}
}
备注
12 pages, 3 figures