膜-迪克耦合参数对虫洞与裸奇点弱引力透镜效应的影响

在本文中，我们分析膜-迪克虫洞在弱场极限近似下的光线偏折角，以探寻膜-迪克耦合参数对弱引力透镜的影响。为此，我们采用新的几何技术，即高斯-博内定理与光学几何来计算偏折角。此外，我们通过最熟悉的测地线技术验证了我们的结果。进而，我们用玻姆轨迹取代经典测地线，建立了膜-迪克虫洞的量子修正度规，其物质源和各向异性压强受玻姆量子效应影响，并计算了其量子修正偏折角。随后，我们计算了裸奇点的偏折角，并与虫洞的结果进行比较。这样一种新颖的透镜特征或可作为探测虫洞、裸奇点以及膜-迪克理论证据的一种途径。