磁场对顶点重构μ-自旋谱仪的影响

Si像素基体粒子跟踪方案在μSR中的应用，除了其他优势外，还允许使用十倍提高的停留μ数量，并实现体积为当前可行的十倍的小样本测量。本文 presented for two种 spectrometer 配置的仿真结果，以评估磁场对这两种配置的影响，这些配置使用用于入射和出射粒子的两层跟踪方案。在磁场最高可达约50 mT的低场情况下，跟踪和重构精度仅受到最小影响。超过约80 mT的磁场后，跟踪能力显著下降。使用小磁场运行双层方案无需进行适配。只有在大磁场下，才需要采用精确场图的跟踪方案，或至少使用三层方案才能实现可靠的粒子跟踪。