新型Eu2+掺杂TlSr2I5闪烁体晶体的表征
仪器与探测器
2017-09-18 v1 材料科学
摘要
TlSr2I5: Eu2+是一种新发现的闪烁体，在X射线和射线能谱应用中显示出有前景的闪烁特性。采用双温区垂直布里奇曼（Bridgman）法生长该闪烁体。在室温X射线激发下测量所生长晶体的发光特性。纯晶体和Eu2+掺杂晶体分别包含445-670 nm（峰值528 nm）和430-600 nm（峰值463 nm）的宽发射带。在662 keV 射线激发下使用Cs放射源研究能量分辨率、光产额和衰减时间剖面。对于3 mol% Eu2+掺杂晶体，获得4.2% (FWHM)的能量分辨率。对于同一样品，还获得了70,000 ph/MeV的光产额。在室温下，纯样品和Eu2+掺杂样品分别观察到三个和两个衰减常数。有效Z数和密度分别为61和5.30 g/cm。
引用
@article{arxiv.1709.04975,
title = {The Characterization of new Eu2+ doped TlSr2I5 Scintillator Crystals},
author = {H. J. Kim and Gul Rooh and Arshad Khan and H. Park and Sunghwan Kim},
journal= {arXiv preprint arXiv:1709.04975},
year = {2017}
}