基于原子级力显微镜研究的 NaI 闪烁体中 Eu 掺杂剂的缺陷化学
材料科学
2019-08-07 v2
摘要
激活剂杂质及其在主体晶格中的分布对闪烁现象起着关键作用。本文结合截面非接触原子力显微镜（nc-AFM）、X 射线光电子能谱（XPS）与密度泛函理论（DFT），研究了由 3% EuI2 激活的 NaI 闪烁体中 Eu2+ 掺杂剂的分布。发现了两类析出结构。首先，层状结构的针状 EuI2 析出物很可能负责散射闪烁光。在具有良好闪烁性能的透明晶体中，发现了尺寸小于 4 nm 的立方晶体结构析出物。在所有被研究样品中均检测到出乎意料的低点缺陷浓度。退火后，Eu 向表面偏析，形成具有 EuI2 组分的有序六方覆盖层以及明显的单向 moire 图案。
引用
@article{arxiv.1809.01347,
title = {Defect chemistry of Eu dopants in NaI scintillators studied by atomically resolved force microscopy},
author = {Manuel Ulreich and Lynn A. Boatner and Igor Sokolovic and Michele Reticcioli and Flora Poelzleitner and Cesare Franchini and Michael Schmid and Ulrike Diebold and Martin Setvin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1809.01347},
year = {2019}
}