改进型 CsI:Tl 与 NaI:Tl 闪烁体的生长与性能评估
仪器与探测器
2021-06-22 v1
摘要
闪烁体在辐射探测与成像中发挥着重要作用。铊掺杂碘化铯(CsI:Tl)与铊掺杂碘化钠(NaI:Tl)是数十年来广泛用于多种应用的主要闪烁体中的两种。本文我们将介绍由 Xtallized Intelligence, Inc. (XI, Inc.) 采用布里奇曼法生长的改进型 CsI(Tl) 与 NaI(Tl) 晶体的改进闪烁性能，并将其与市售 CsI:Tl 和 NaI:Tl 的性能进行比较。在使用 MicroFJ-60035-TSV 硅光电倍增管(ON Semiconductor)的初步测试中，新开发改进的 12.5x12.5x6 mm3 CsI:Tl 晶体在 662 keV 处显示出 4.8% (FWHM) 的能量分辨率，而尺寸为 12.5x12.5x25 mm3 的市售 CsI:Tl 为 7.2%。新改进 NaI:Tl 晶体在 662 keV 处的能量分辨率为 5.4% (FWHM)，而市售 1 in. dia. x 1 in. NaI(Tl) 为 7%。光峰通道位置的比较表明，XI, Inc. 开发的改进型 CsI:Tl 和 NaI:Tl 相较于市售 CsI(Tl) 和 NaI:Tl 产生了大得多的信号幅度。文中还给出了改进的衰减时间常数。
引用
@article{arxiv.2106.10403,
title = {Growth and Evaluation of Improved CsI:Tl and NaI:Tl Scintillators},
author = {R. Hawrami and A. Farsoni and H. Sabet and D. Szydel},
journal= {arXiv preprint arXiv:2106.10403},
year = {2021}
}