DeepSOH 的论据：解决剩余使用寿命的路径依赖性
系统与控制
2024-05-21 v1 系统与控制
摘要
基于容量衰减和电阻增加的电池健康状态 (SOH) 不足以预测剩余使用寿命 (RUL)。电化学界将我们无法预测退化归咎于电池退化机制的路径依赖性。控制界知道全状态估计可以解决路径依赖性。我们表明，即使是特定电极的 SOH (eSOH) 估计也不足以完全定义退化状态，我们通过从唯一的 eSOH 模拟无限种可能的退化轨迹和剩余使用寿命 (RUL) 来证明这一点。我们最终定义了 deepSOH 状态，它捕获了所有常见退化机制（即 SEI、镀锂和机械断裂）对锂库存损失的单独贡献。我们表明，增加电池膨胀测量可能允许我们估计 deepSOH 并预测剩余使用寿命。
引用
@article{arxiv.2405.12028,
title = {The Case for DeepSOH: Addressing Path Dependency for Remaining Useful Life},
author = {Hamidreza Movahedi and Andrew Weng and Sravan Pannala and Jason B. Siegel and Anna G. Stefanopoulou},
journal= {arXiv preprint arXiv:2405.12028},
year = {2024}
}
备注
6 pages, 3 figures