石英晶体在软X射线区光学常数的各向异性
材料科学
2021-06-25 v1 光学
摘要
在 45 eV 至 620 eV 能量范围内，由偏振依赖的软X射线反射测量重构了 y 切 SiO 晶体表面的折射率。由于晶体结构在 (100) 和 (001) 方向上的各向异性，我们观察到在 Si-L 和 O-K 吸收边处测量反射率的显著偏差。由这些数据重构的光学常数各向异性也通过 O-K 边的第一性原理 Bethe-Salpeter Equation 计算得到证实。这一新的实验数据集显著扩展了石英光学常数的现有文献数据，特别是在近边区域。
引用
@article{arxiv.2010.09436,
title = {The anisotropy in the optical constants of quartz crystals for soft X-rays},
author = {A. Andrle and P. Hönicke and J. Vinson and R. Quintanilha and Q. Saadeh and S. Heidenreich and F. Scholze and V. Soltwisch},
journal= {arXiv preprint arXiv:2010.09436},
year = {2021}
}