ZrSiSe 中温度诱导的 Lifshitz 转变与可能的激子不稳定性
材料科学
2020-06-16 v1
摘要
节线半金属因其独特的电子结构（如线性色散以及费米能趋近节点时态密度消失）而备受关注。本文报道了节线半金属 ZrSiSe 的温度依赖输运与扫描隧道显微镜（谱学）（STM[S]）测量。我们的实验结果与理论分析一致表明，温度在 80 K 和 106 K 诱导了 ZrSiSe 中的 Lifshitz 转变，并导致相同温度下的输运反常。更引人注目的是，我们在低温 STS 谱中观察到费米能附近的 V 形凹陷结构，这可归因于自旋轨道耦合与激子不稳定性的共同作用。我们的观测表明关联相互作用可能在具有准二维电子结构的 ZrSiSe 中发挥重要作用。
引用
@article{arxiv.2006.08428,
title = {Temperature-Induced Lifshitz Transition and Possible Excitonic Instability in ZrSiSe},
author = {F. C. Chen and Y. Fei and S. J. Li and Q. Wang and X. Luo and J. Yan and W. J. Lu and P. Tong and W. H. Song and X. B. Zhu and L. Zhang and H. B. Zhou and F. W. Zheng and P. Zhang and A. L. Lichtenstein and M. I. Katsnelson and Y. Yin and Ning Hao and Y. P. Sun},
journal= {arXiv preprint arXiv:2006.08428},
year = {2020}
}
备注
6 pages, 4 figures