量子霍尔边缘之间隧穿�幅的温度依赖性
介观与纳米尺度物理
2009-11-10 v1
摘要
最近的实验研究了分数量子霍尔液体边缘之间的隧穿电流随温度和电压的变化。实验结果令人困惑，因为在“高”温（600-900 mK）时，隧穿电导行为与色旋 Luttinger 液体间隧穿理论一致，但在低温时则与该理论预测严重偏离，隧穿电导随温度下降而趋于零。本文提出了隧穿�幅强烈温度依赖性解释这一行为的可能性。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0407096,
title = {Temperature Dependence of the Tunneling Amplitude between Quantum Hall Edges},
author = {Roberto D'Agosta and Giovanni Vignale and Roberto Raimondi},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0407096},
year = {2009}
}
备注
4 pages, 3 figures, RevTex 4, submitted to PRL