SSX风洞中的温度与寿命测量
等离子体物理
2018-09-11 v1
摘要
我们描述了使用两种不同方法在SSX MHD风洞中进行电子温度测量。首先，我们利用真空紫外单色仪测量 与 线强之比，沿一条弦估计 。其次，我们对双朗缪尔探针进行偏压扫描以获得 的局部测量。这些研究的目的是主要通过提高电子温度来延长泰勒态寿命。此外，提出了一个预测弛豫态磁寿命的模型，并发现其能令人满意地预测寿命。进而，我们发现质子冷却可由与电子的平衡来解释。
引用
@article{arxiv.1809.03304,
title = {Temperature and lifetime measurements in the SSX wind tunnel},
author = {M. Kaur and K. D. Gelber and A. D. Light and M. R. Brown},
journal= {arXiv preprint arXiv:1809.03304},
year = {2018}
}