深耗尽 CCD 中的撕裂及相关场畸变
天体物理仪器与方法
2020-02-24 v1
摘要
影响 CCD 平场帧的撕裂图样是执行像素响应非均匀性校正时一个视觉上显著的障碍。这些图样可由横向场畸变解释，其由传感器列间沟道截止区中空穴的非均匀分布引起。在 LSST 相机开发过程中，已提出若干实用修复方案以消除撕裂。但将这些修复应用于我们的 16 通道 Teledyne-e2v 传感器后，至多只在每个分段垂直边缘留下畸变图样。我们的工作假说是，撕裂的起源在于并行时钟操作本身，其移动了沟道截止区中存在的空穴。这些转移的效率和时钟操作的细节强烈相关，导致了所观测到的多种畸变图样。因此，大多数畸变图样可通过在执行获取帧之前立即进行清除操作来消除，该操作将沟道截止区中的空穴分布压平。更有效的解决方案是将所有时钟操作切换为使用双极性电压组。
引用
@article{arxiv.2002.09439,
title = {Tearing and related field distortions in deep-depletion CCDs},
author = {Claire Juramy and Pierre Antilogus and Laurent Le Guillou and Eduardo Sepulveda},
journal= {arXiv preprint arXiv:2002.09439},
year = {2020}
}
备注
11 pages, proceeding of ISPA2018