共掺杂条纹状 Cuprate 中的 $T_c$ 抑制
超导电性
2019-05-15 v1
摘要
我们提出了一个模型，解释了由于平面杂质共掺杂导致条纹被锁定而引起 降低的机制。关于条纹锁定影响平面载流子比例的几何论证，导致 随杂质浓度 呈线性抑制。临界值 （超导性消失点）在非优化掺杂区按 比例增长，并在优化及过掺杂区达到普适值。我们的理论与单层和双层 Cuprate 共掺杂 Zn、Li、Co 等实验数据吻合良好。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0012080,
title = {$T_c$ suppression in co-doped striped cuprates},
author = {C. Morais Smith and A. H. Castro Neto and A . V. Balatsky},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0012080},
year = {2019}
}
备注
4 pages, 4 figures