利用共振非弹性X射线圆二向色性系统映射交替磁子

交替磁体是一类结合了铁磁体和反铁磁体特征的独特磁性材料，因其在自旋电子学和磁子学中的潜力而备受关注。尽管交替磁体的电子性质已被深入研究，但表征其磁子激发对于全面理解其行为及实现实际器件应用至关重要。在本工作中，我们提出了一种结合圆偏振共振非弹性X射线散射与方位角扫描的测量方案，以探测 CrSb 中交替磁性劈裂磁子模式的手性性质。该方法规避了宏观样品中畴平均带来的挑战，能够对单个反铁磁畴中磁子的极化和能量进行精确测量。我们的研究结果在磁子峰中表现出显著的圆二向色性，其方位角依赖性与理论预测和 $g$ 波对称性一致。通过建立一种可靠且易于实现的探测交替磁子的方法，本工作为这些集体激发的基础研究以及开发下一代磁子器件应用开辟了新途径。