色散目标的合成孔径成像

我们引入一种基于远场中粒子散射的色散点目标模型。随后将合成孔径成像问题拓展为识别这些目标并恢复其位置与频率相关反射率。我们证明 Kirchhoff 偏移（KM）能够识别成像区域中的色散点目标。然而，KM 预测的目标位置在距离上相对于其真实位置发生了偏移。我们推导了单目标下该距离偏移的估计。我们还表明，由于该距离偏移，我们无法恢复复值的频率相关反射率，但可恢复其绝对值，从而恢复目标的雷达截面（RCS）。仿真结果表明，我们能够检测色散点目标、恢复其近似位置并恢复其 RCS，从而为区分多个目标间的重要差异（如尺寸或材料组成）提供了机会。