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硅烯化基片干涉与应变对单层 MoSe$_2$ 第二谐波产生的影响

材料科学 2025-01-06 v1

摘要

原子厚度的非线性光学材料——如无中心对称性的 2H 过渡金属硫化物单层化合物——具有可由应变调节强度的二阶非线性介数(χ(2)\chi^{(2)})。然而,χ(2)\chi^{(2)} 是被拉伸应变增强还是减弱,尚存分歧。本文在由两种不同基片制造的受控双向应变下生长高质量单层 MoSe2_2,并结合实验和理论方法研究其线性和非线性光学响应。在与其在 Si3_3N4基片上的值比较时,我们观察到在SiO_4 基片上的值比较时,我们观察到在 SiO_2基片上生长的单层MoSe 基片上生长的单层 MoSe_2的第二谐波产生(SHG)强度整体提高约15倍。我们将所观察到的七倍增益断定为基片干涉所致,将其余两倍增益归因于双向应变对 的第二谐波产生(SHG)强度整体提高约 15 倍。我们将所观察到的七倍增益断定为基片干涉所致,将其余两倍增益归因于双向应变对\chi^{(2)}$的增强:基片干涉和应变是独立的,可用于工程化非中心对称性 2D 材料 SHG 强度的两个独立调控手段。

关键词

引用

@article{arxiv.2407.01339,
  title  = {Substrate interference and strain in the second harmonic generation from MoSe$_2$ monolayers},
  author = {S. Puri and S. Patel and J. L. Cabellos and L. E. Rosas-Hernandez and S. Barraza-Lopez and B. Mendoza and H. Nakamura},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2407.01339},
  year   = {2025}
}