Pr_{0.6}Ca_{0.4}MnO_{3} 薄膜上的基片诱导应变效应
强关联电子
2009-11-10 v1 材料科学
摘要
我们报告了对生长于 LaAlO_{3}、NdGaO_{3} 和 SrTiO_{3} 基片上的 Pr_{0.6}Ca_{0.4}MnO_{3} 薄膜晶体结构、低温电荷与轨道有序性、输运性质及磁性进行的表征。其中 LaAlO_{3} 提供压缩应变，而 NdGaO_{3} 和 SrTiO_{3} 提供拉伸应变。观察到这些薄膜的晶轴对称性与 bulk 材料不同，在压缩应变下，低温有序性比拉伸应变下更稳健。事实上，生长于 NdGaO_{3} 的薄膜中未观察到类似 bulk 的电荷与轨道有序性——该基片提供的应变既在名义上也在实际测量中最少且为拉伸型。这一结果表明 Mn-O-Mn 键角在低温电荷与轨道有序形成中发挥着重要作用。最后，在生长于 LaAlO_{3} 的薄膜中，报告了晶格变形（与轨道有序相关）与反铁磁性萌发之间的关联。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0303228,
title = {Substrate-induced strain effects on Pr_{0.6}Ca_{0.4}MnO_{3} films},
author = {C. S. Nelson and J. P. Hill and Doon Gibbs and M. Rajeswari and A. Biswas and S. Shinde and R. L. Greene and T. Venkatesan and A. J. Millis and F. Yokaichiya and C. Giles and D. Casa and C. T. Venkataraman and T. Gog},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0303228},
year = {2009}
}
备注
12 pages, 7 figures