M{\o}lmer-S{\o}rensen门的子空间漏泄误差随机基准测试
量子物理
2025-10-13 v1 原子物理
摘要
本文演示了一种新技术，将单量子位随机基准测试适用于两量子位M{\o}lmer-S{\o}rensen门。我们利用可控的门相位生成作用于两状态子空间的Clifford运算，从而在无需单量子位操作的情况下对两量子位门进行基准测试。该协议不仅量化门失真，还通过区分保存两状态子空间的误差与导致其漏泄的误差，提供关于误差类型的有价值信息。我们针对 trapped-ion 量子计算机中全电子的最大纠缠门演示了该协议，实现了两量子位门误差为。
引用
@article{arxiv.2510.09508,
title = {Subspace Leakage Error Randomized Benchmarking of M{\o}lmer-S{\o}rensen Gates},
author = {R. T. Sutherland and A. C. Hughes and J. P. Marceaux and H. M. Knaack and C. M. Löschnauer and R. Srinivas},
journal= {arXiv preprint arXiv:2510.09508},
year = {2025}
}