双圈中微子质量生成模型研究

我们研究了通过双圈图辐射生成 Majorana 中微子质量的模型，这些图涉及 Yukawa 耦合 $\rho \bar \ell_R^c \ell_R$ 和有效耦合 $\rho^{\pm\pm} W^\mp W^\mp$，以及一个标量三重态 $\Delta$，其中 $\rho$ 是双电荷单重态标量，$\ell_R$ 是带电轻子，$W$ 是带电规范玻色子。此类模型的一个普遍特征是，中微子质量谱必须为正序层级。此外，利用中微子振荡数据并与文献中的全局拟合结果进行比较，我们发现了一个独特的中微子质量矩阵，并预测 Dirac CP 相和两个 Majorana CP 相分别为 $1.40\pi$、$1.11\pi$ 和 $1.47\pi$。我们还讨论了受轻子味破坏过程和电弱斜参量约束的模型参数。此外，我们表明无中微子双贝塔衰变 $(0\nu\beta\beta)$ 的速率可高达当前实验上限，因为其由树图级的短程贡献主导，而传统的长程贡献可忽略不计。