ILC 上 $h\gamma Z$ 耦合的研究

我们研究 $h \gamma Z$ 耦合，它是标准模型（SM）中圈诱导的耦合，以探测新物理。在基于 SM 有效场论的全局拟合中，对 SM $h \gamma Z$ 耦合的测量可提供非常有用的约束，特别是对 $hZZ$ 与 $hWW$ 耦合的精确确定。在国际直线对撞机（ILC）上，有两种直接研究 $h \gamma Z$ 耦合的方法：一是测量 $h \to \gamma Z$ 衰变的分支比，二是测量 $e^+e^- \to h \gamma$ 过程的截面。我们在 250 GeV ILC 上对 $e^+e^- \to h \gamma$ 过程进行了全模拟研究，假设国际大型探测器（ILD）收集 2 ab$^{-1}$ 数据。结合 $e^+e^- \to h \gamma$ 后随 $h \to b \bar{b}$ 的截面测量与 $h \to \gamma Z$ 分支比，对有效 $h\gamma Z$ 耦合（$\zeta_{AZ}$）预期的 1$\sigma$ 界限为 $-0.0015<\zeta_{AZ}<0.0015$。在束流极化 $P(e^-,e^+)=(-80\%,+30\%)$ 下，全强子 $h \to WW^*$ 道中信号截面的预期显著性为 0.09 $\sigma$。