辐照pad二极管中深度依赖的电荷收集分布研究
仪器与探测器
2023-01-24 v2 高能物理 - 实验
摘要
本工作中，使用5.2 GeV电子束平行于读出电极穿过二极管，测量了未辐照和辐照的150 m 型pad二极管的电荷收集分布。四个二极管被23 MeV质子辐照至1 MeV中子等效通量2、4、8和12E15 {cm}^{-2}。通过解卷积数据提取了作为深度函数的电荷收集效率分布。测量结果使用文献中三种针对不同辐照类型和通量调谐的辐射损伤模型与模拟进行了比较。
引用
@article{arxiv.2209.12790,
title = {Study of depth-dependent charge collection profiles in irradiated pad diodes},
author = {Mohammadtaghi Hajheidari and Massimiliano Antonello and Erika Garutti and Robert Klanner and Joern Schwandt and Georg Steinbrueck},
journal= {arXiv preprint arXiv:2209.12790},
year = {2023}
}