Co$_2$MnSi薄膜在He$^+$辐照下的结构-性能关系
材料科学
2018-09-20 v1
摘要
我们研究了CoMnSi Heusler薄膜在He离子辐照下的结构-性能关系。利用核磁共振（NMR）和透射电子显微镜（TEM）探测了随离子注量增加的晶体结构变化，并将其与相应的磁行为变化相关联。观察到结构有序度和饱和磁矩均下降。具体而言，我们检测到从高度有序到完全无序结构类型的直接转变，并量化了结构贡献随离子注量的演化。补充的TEM分析揭示了和相的空间分辨分布，表明无序始于薄膜上部。结构退化进而导致饱和磁矩随注量增加而下降。
引用
@article{arxiv.1809.07097,
title = {Structure-property relationship of Co$_2$MnSi thin films in response to He$^+$ -irradiation},
author = {F. Hammerath and R. Bali and R. Huebner and M. R. D. Brandt and S. Rodan and K. Potzger and R. Boettger and Y. Sakuraba and B. Buechner and S. Wurmehl},
journal= {arXiv preprint arXiv:1809.07097},
year = {2018}
}
备注
9 pages, 5 figures