利用极化中子反射谱及互补技术对 S/F 型 CuNi/Nb 双层膜的结构、磁性和超导特性表征
强关联电子
2015-08-13 v2 材料科学
摘要
利用极化中子反射谱（Polarized Neutron Reflectometry）及互补技术，表征了沉积在硅衬底上的 S/F 双层膜 Nb/Cu40Ni60 的结构、磁性和超导特性。该研究确定了 S 层和 F 层的实际厚度以及 S/F 界面的均方根（r.m.s.）粗糙度。后者不超过 1 nm，表明 S/F 界面具有高质量。利用 SQUID 和互感装置，我们测定了样品的超导转变温度，结果与文献数据一致。利用 PNR 对单一 S 层的研究确定了超导层的屏蔽长度 lambda，lambda = 120 nm。该值高于纯铌的伦敦穿透深度，这可能表明超导体处于脏极限（dirty limit）。对 CuNi 层磁性的 PNR 和 SQUID 研究表明，所有被测样品中均存在铁磁性。
引用
@article{arxiv.1405.0242,
title = {Structural, magnetic and superconducting characterization of the CuNi/Nb bilayers of the S/F type using Polarized Neutron Reflectometry and complementary techniques},
author = {Yu. Khaydukov and R. Morari and L. Mustafa and J. -H. Kim and T. Keller and S. Belevski and A. Csik and L. Tagirov and G. Logvenov and A. Sidorenko and B. Keimer},
journal= {arXiv preprint arXiv:1405.0242},
year = {2015}
}
备注
8 pages, 4 figures