利用极化中子反射术在单层 S/F 双层膜中研究逆邻近效应的可行性
强关联电子
2013-10-22 v2 超导电性
摘要
本文报告了一项可行性研究，旨在探索极化中子反射术（PNR）在探测单层超导/铁磁（S/F）双层膜中逆邻近效应的潜力。在 V(40nm)/Fe(1nm) S/F 双层膜上进行的实验表明，在 T = 0.5TC 时测得的实验自旋不对称性相较于 T = 1.5TC 时测得的曲线向更高的 Q 值偏移。这种偏移可以通过在超导钒中出现厚度为 7 nm、磁化强度为 +0.8 kG 的磁性子层来描述。
引用
@article{arxiv.1306.2173,
title = {On the feasibility to study inverse proximity effect in a single S/F bilayer by Polarized Neutron Reflectometry},
author = {Yu. N. Khaydukov and B. Nagy and J. -H. Kim and T. Keller and A. Rühm and Yu. V. Nikitenko and K. N. Zhernenkov and J. Stahn and L. Kiss and A. Csik and L. Bottyán and V. L. Aksenov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1306.2173},
year = {2013}
}
备注
Changes in the 2nd version: small mistypes are corrected. Manuscript submitted to JETP let. 4 pages, 2 figures